Probing active-edge silicon sensors using a high precision telescope

K. Akiba, M. Artuso, V. Van Beveren, M. Van Beuzekom, H. Boterenbrood, J. Buytaert, P. Collins, R. Dumps, B. Van Der Heijden, C. Hombach, D. Hynds, D. Hsu, M. John, E. Koffeman, A. Leflat, Y. Li, I. Longstaff, A. Morton, E. Pérez Trigo, R. PlackettM. M. Reid, P. Rodríguez Perez, H. Schindler, P. Tsopelas, C. Vázquez Sierra, M. WysokińskiShow 6 othersShow less