Measurement of the product branching fraction B(c→Θ_cX)XB(Θ_c→ΛX)

R. Ammar, P. Baringer, P. Brabant, A. Bean, D. Besson, H. Bull, R. Davis, J. Holliday, S. Kotov, I. Kravchenko, N. Kwak, I. Robertson, R. Stutz, X. Zhao, S. Anderson, V. V. Frolov, Y. Kubota, S. J. Lee, R. Mahapatra, J. J. O'NeillR. Poling, T. Riehle, A. Smith, S. Ahmed, M. S. Alam, S. B. Athar, L. Jian, L. Ling, A. H. Mahmood, M. Saleem, S. Timm, F. Wappler, A. Anastassov, J. E. Duboscq, K. K. Gan, C. Gwon, T. Hart, K. Honscheid, H. Kagan, R. Kass, J. Lorenc, H. Schwarthoff, E. Von Toerne, M. M. Zoeller, S. J. Richichi, H. Severini, P. Skubic, A. Undrus, M. Bishai, S. Chen, J. Fast, J. W. Hinson, J. Lee, N. Menon, D. H. Miller, E. I. Shibata, I. P.J. Shipsey, Y. Kwon, A. L. Lyon, E. H. Thorndike, C. P. Jessop, K. Lingel, H. Marsiske, M. L. Perl, V. Savinov, D. Ugolini, X. Zhou, T. E. Coan, V. Fadeyev, I. Korolkov, Y. Maravin, I. Narsky, R. Stroynovvski, J. Ye, T. Wlodek, M. Artuso, R. Ayad, E. Dambasuren, S. Kopp, G. Majumder, G. C. Moneti, R. Mountain, S. Schuh, T. Skwarnicki, S. Stone, A. Titov, G. Viehhauser, J. C. Wang, A. Wolf, J. Wu, S. E. Csorna, K. W. McLean, S. Marka, Z. Xu, R. Godang, K. Kinoshita, I. C. Lai, P. Pomianowski, S. Schrenk, G. Bonvicini, D. Cinabro, R. Greene, L. P. Perera, G. J. Zhou, S. Chan, G. Eigen, E. Lipeles, M. Schmidtler, A. Shapiro, W. M. Sun, J. Urheim, A. J. Weinstein, F. Würthwein, D. E. Jaffe, G. Masek, H. P. Paar, E. M. Potter, S. Prell, V. Sharma, D. M. Asner, A. Eppich, J. Gronberg, T. S. Hill, D. J. Lange, R. J. Morrison, T. K. Nelson, J. D. Richman, R. A. Briere, B. H. Behrens, W. T. Ford, A. Gritsan, H. Krieg, J. Roy, J. G. Smith, J. P. Alexander, R. Baker, C. Bebek, B. E. Berger, K. Berkelman, F. Blanc, V. Boisvert, D. G. Cassel, M. Dickson, P. S. Drell, K. M. Ecklund, R. Ehrlich, A. D. Foland, P. Gaidarev, L. Gibbons, B. Gittelman, S. W. Gray, D. L. Hartill, B. K. Heltsley, P. I. Hopman, C. D. Jones, D. L. Kreinick, T. Lee, Y. Liu, T. O. Meyer, N. B. Mistry, C. R. Ng, E. Nordberg, J. R. Patterson, D. Peterson, D. Riley, J. G. Thayer, P. G. Thies, B. Valant-Spaight, A. Warburton, P. Avery, M. Lohner, C. Prescott, A. I. Rubiera, J. Yelton, J. Zheng, G. Brandenburg, A. Ershov, Y. S. Gao, D. Y.J. Kim, R. Wilson, T. E. Browder, Y. Li, J. L. Rodriguez, H. Yamamoto, T. Bergfeld, B. I. Eisenstein, J. Ernst, G. E. Gladding, G. D. Gollin, R. M. Hans, E. Johnson, I. Karliner, M. A. Marsh, M. Palmer, C. Plager, C. Sedlack, M. Selen, J. J. Thaler, J. Williams, K. W. Edwards, R. Janicek, P. M. Patel, A. J. SadoffShow 183 othersShow less