Measurement of the inclusive semielectronic D0 branching fraction

Y. Kubota, M. Lattery, J. K. Nelson, S. Patton, R. Poling, T. Riehle, V. Savinov, R. Wang, M. S. Alam, I. J. Kim, Z. Ling, A. H. Mahmood, J. J. O'Neill, H. Severini, C. R. Sun, S. Timm, F. Wappler, G. Crawford, J. E. Duboscq, R. FultonD. Fujino, K. K. Gan, K. Honscheid, H. Kagan, R. Kass, J. Lee, M. Sung, C. White, R. Wanke, A. Wolf, M. M. Zoeller, X. Fu, B. Nemati, W. R. Ross, P. Skubic, M. Wood, M. Bishai, J. Fast, E. Gerndt, J. W. Hinson, T. Miao, D. H. Miller, M. Modesitt, E. I. Shibata, I. P J Shipsey, P. N. Wang, L. Gibbons, S. D. Johnson, Y. Kwon, S. Roberts, E. H. Thorndike, T. E. Coan, J. Dominick, V. Fadeyev, I. Korolkov, M. Lambrecht, S. Sanghera, V. Shelkov, R. Stroynowski, I. Volobouev, G. Wei, Marina Artuso, M. Gao, M. Goldberg, D. He, N. Horwitz, S. Kopp, G. C. Moneti, R. Mountain, F. Muheim, Y. Mukhin, S. Playfer, Tomasz Skwarnicki, Sheldon Stone, X. Xing, J. Bartelt, S. E. Csorna, V. Jain, S. Marka, D. Gibaut, K. Kinoshita, P. Pomianowski, S. Schrenk, B. Barish, M. Chadha, S. Chan, D. F. Cowen, G. Eigen, J. S. Miller, C. O'Grady, J. Urheim, A. J. Weinstein, F. Würthwein, D. M. Asner, M. Athanas, D. W. Bliss, W. S. Brower, G. Masek, H. P. Paar

Research output: Contribution to journalArticle

11 Scopus citations
Original languageEnglish (US)
Pages (from-to)2994-3005
Number of pages12
JournalPhysical Review D
Volume54
Issue number5
StatePublished - Sep 1 1996

ASJC Scopus subject areas

  • Mathematical Physics
  • Physics and Astronomy(all)
  • Nuclear and High Energy Physics
  • Physics and Astronomy (miscellaneous)

Cite this

Kubota, Y., Lattery, M., Nelson, J. K., Patton, S., Poling, R., Riehle, T., Savinov, V., Wang, R., Alam, M. S., Kim, I. J., Ling, Z., Mahmood, A. H., O'Neill, J. J., Severini, H., Sun, C. R., Timm, S., Wappler, F., Crawford, G., Duboscq, J. E., ... Paar, H. P. (1996). Measurement of the inclusive semielectronic D0 branching fraction. Physical Review D, 54(5), 2994-3005.