Measurement of the decay asymmetry parameters in 5"-H IT+

S. Chan, G. Eigen, E. Lipeles, J. S. Miller, M. Schmidtler, A. Shapiro, W. M. Sun, J. Urheim, A. J. Weinstein, F. Würthwein, D. E. Jaffe, G. Masek, H. P. Paar, E. M. Potter, S. Prell, V. Sharma, D. M. Asner, A. Eppich, J. Gronberg, T. S. HillD. J. Lange, R. J. Morrison, H. N. Nelson, T. K. Nelson, D. Roberts, B. H. Behrens, W. T. Ford, A. Gritsan, H. Krieg, J. Roy, J. G. Smith, J. P. Alexander, R. Baker, C. Bebek, B. E. Berger, K. Berkelman, V. Boisvert, D. G. Cassel, D. S. Crowcroft, M. Dickson, S. von Dombrowski, P. S. Drell, K. M. Ecklund, R. Ehrlich, A. D. Foland, P. Gaidarev, L. Gibbons, B. Gittelman, S. W. Gray, D. L. Hartill, B. K. Heltsley, P. I. Hopman, D. L. Kreinick, T. Lee, Y. Liu, N. B. Mistry, C. R. Ng, E. Nordberg, M. Ogg, J. R. Patterson, D. Peterson, D. Riley, A. Soffer, B. Valant-Spaight, A. Warburton, C. Ward, M. Athanas, P. Avery, C. D. Jones, M. Lohner, C. Prescott, A. I. Rubiera, J. Yelton, J. Zheng, G. Brandenburg, R. A. Briere, A. Ershov, Y. S. Gao, D. Y.J. Kim, R. Wilson, T. E. Browder, Y. Li, J. L. Rodriguez, H. Yamamoto, T. Bergfeld, B. I. Eisenstein, J. Ernst, G. E. Gladding, G. D. Gollin, R. M. Hans, E. Johnson, I. Karliner, M. A. Marsh, M. Palmer, M. Selen, J. J. Thaler, K. W. Edwards, A. Bellerive, R. Janicek, P. M. Patel, A. J. Sadoff, R. Ammar, P. Baringer, A. Bean, D. Besson, D. Coppage, R. Davis, S. Kotov, I. Kravchenko, N. Kwak, L. Zhou, S. Anderson, Y. Kubota, S. J. Lee, R. Mahapatra, J. J. O’Neill, R. Poling, T. Riehle, A. Smith, M. S. Alam, S. B. Athar, Z. Ling, A. H. Mahmood, S. Timm, F. Wappler, A. Anastassov, J. E. Duboscq, K. K. Gan, C. Gwon, T. Hart, K. Honscheid, H. Kagan, R. Kass, J. Lee, J. Lorenc, H. Schwarthoff, A. Wolf, M. M. Zoeller, S. J. Richichi, H. Severini, P. Skubic, A. Undrus, M. Bishai, S. Chen, J. Fast, J. W. Hinson, N. Menon, D. H. Miller, E. I. Shibata, I. P. Shipsey, S. Glenn, Y. Kwon, A. L. Lyon, S. Roberts, E. H. Thorndike, C. P. Jessop, K. Lingel, H. Marsiske, M. L. Perl, V. Savinov, D. Ugolini, X. Zhou, T. E. Coan, V. Fadeyev, I. Korolkov, Y. Maravin, I. Narsky, R. Stroynowski, J. Ye, T. Wlodek, M. Artuso, E. Dambasuren, S. Kopp, G. C. Moneti, R. Mountain, S. Schuh, T. Skwarnicki, S. Stone, A. Titov, G. Viehhauser, J. C. Wang, S. E. Csorna, K. W. McLean, S. Marka, Z. Xu, R. Godang, K. Kinoshita, I. C. Lai, P. Pomianowski, S. Schrenk, G. Bonvicini, D. Cinabro, R. Greene, L. P. Perera, G. J. ZhouShow 175 othersShow less