Measurement of prominent Ε-decay branching fractions

A. Lopez, S. Mehrabyan, H. Mendez, J. Ramirez, J. Y. Ge, D. H. Miller, B. Sanghi, I. P.J. Shipsey, B. Xin, G. S. Adams, M. Anderson, J. P. Cummings, I. Danko, D. Hu, B. Moziak, J. Napolitano, Q. He, J. Insler, H. Muramatsu, C. S. ParkE. H. Thorndike, F. Yang, M. Artuso, S. Blusk, S. Khalil, J. Li, N. Menaa, R. Mountain, S. Nisar, K. Randrianarivony, R. Sia, T. Skwarnicki, S. Stone, J. C. Wang, G. Bonvicini, D. Cinabro, M. Dubrovin, A. Lincoln, D. M. Asner, K. W. Edwards, P. Naik, R. A. Briere, T. Ferguson, G. Tatishvili, H. Vogel, M. E. Watkins, J. L. Rosner, N. E. Adam, J. P. Alexander, D. G. Cassel, J. E. Duboscq, R. Ehrlich, L. Fields, R. S. Galik, L. Gibbons, R. Gray, S. W. Gray, D. L. Hartill, B. K. Heltsley, D. Hertz, C. D. Jones, J. Kandaswamy, D. L. Kreinick, V. E. Kuznetsov, H. Mahlke-Krüger, D. Mohapatra, P. U.E. Onyisi, J. R. Patterson, D. Peterson, D. Riley, A. Ryd, A. J. Sadoff, X. Shi, S. Stroiney, W. M. Sun, T. Wilksen, S. B. Athar, R. Patel, J. Yelton, P. Rubin, B. I. Eisenstein, I. Karliner, N. Lowrey, M. Selen, E. J. White, J. Wiss, R. E. Mitchell, M. R. Shepherd, D. Besson, T. K. Pedlar, D. Cronin-Hennessy, K. Y. Gao, J. Hietala, Y. Kubota, T. Klein, B. W. Lang, R. Poling, A. W. Scott, P. Zweber, S. Dobbs, Z. Metreveli, K. K. Seth, A. Tomaradze, J. Ernst, K. M. Ecklund, H. Severini, W. Love, V. SavinovShow 88 othersShow less