Measurement of B(D+ → K̄*0l+νl)

G. Brandenburg, A. Ershov, D. Y.J. Kim, R. Wilson, K. Benslama, B. I. Eisenstein, J. Ernst, G. D. Gollin, R. M. Hans, I. Karliner, N. Lowrey, M. A. Marsh, C. Plager, C. Sedlack, M. Selen, J. J. Thaler, J. Williams, K. W. Edwards, R. Ammar, D. BessonX. Zhao, S. Anderson, V. V. Frolov, Y. Kubota, S. J. Lee, S. Z. Li, R. Poling, A. Smith, C. J. Stepaniak, J. Urheim, S. Ahmed, M. S. Alam, L. Jian, M. Saleem, F. Wappler, E. Eckhart, K. K. Gan, C. Gwon, T. Hart, K. Honscheid, D. Hufnagel, H. Kagan, R. Kass, T. K. Pedlar, J. B. Thayer, E. von Toerne, T. Wilksen, M. M. Zoeller, S. J. Richichi, H. Severini, P. Skubic, S. A. Dytman, S. Nam, V. Savinov, S. Chen, J. W. Hinson, J. Lee, D. H. Miller, V. Pavlunin, E. I. Shibata, I. P.J. Shipsey, D. Cronin-Hennessy, A. L. Lyon, C. S. Park, W. Park, E. H. Thorndike, T. E. Coan, Y. S. Gao, F. Liu, Y. Maravin, I. Narsky, R. Stroynowski, J. Ye, M. Artuso, C. Boulahouache, K. Bukin, E. Dambasuren, R. Mountain, T. Skwarnicki, S. Stone, J. C. Wang, A. H. Mahmood, S. E. Csorna, I. Danko, Z. Xu, G. Bonvicini, D. Cinabro, M. Dubrovin, S. McGee, A. Bornheim, E. Lipeles, S. P. Pappas, A. Shapiro, W. M. Sun, A. J. Weinstein, G. Masek, H. P. Paar, R. Mahapatra, R. A. Briere, G. P. Chen, T. Ferguson, G. Tatishvili, H. Vogel, N. E. Adam, J. P. Alexander, C. Bebek, K. Berkelman, F. Blanc, V. Boisvert, D. G. Cassel, P. S. Drell, J. E. Duboscq, K. M. Ecklund, R. Ehrlich, L. Gibbons, B. Gittelman, S. W. Gray, D. L. Hartill, B. K. Heltsley, L. Hsu, C. D. Jones, J. Kandaswamy, D. L. Kreinick, A. Magerkurth, H. Mahlke-Krüger, T. O. Meyer, N. B. Mistry, E. Nordberg, M. Palmer, J. R. Patterson, D. Peterson, J. Pivarski, D. Riley, A. J. Sadoff, H. Schwarthoff, M. R. Shepherd, J. G. Thayer, D. Urner, B. Valant-Spaight, G. Viehhauser, A. Warburton, M. Weinberger, S. B. Athar, P. Avery, H. Stoeck, J. Yelton

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

5 Scopus citations

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Measurement of B(D+ → K̄*0l+νl)'. Together they form a unique fingerprint.

Keyphrases

Engineering