First observation and dalitz analysis of the D0 → K S0ηπ0 Decay

P. Rubin, B. I. Eisenstein, G. D. Gollin, I. Karliner, N. Lowrey, P. Naik, C. Sedlack, M. Selen, J. J. Thaler, J. Williams, K. W. Edwards, D. Besson, K. Y. Gao, D. T. Gong, Y. Kubota, S. Z. Li, R. Poling, A. W. Scott, A. Smith, C. J. StepaniakJ. Urheim, Z. Metreveli, K. K. Seth, A. Tomaradze, P. Zweber, J. Ernst, K. Arms, E. Eckhart, K. K. Gan, H. Severini, P. Skubic, D. M. Asner, S. A. Dytman, S. Mehrabyan, J. A. Mueller, V. Savinov, Z. Li, A. Lopez, H. Mendez, J. Ramirez, G. S. Huang, D. H. Miller, V. Pavlunin, B. Sanghi, E. I. Shibata, I. P.J. Shipsey, G. S. Adams, M. Chasse, J. P. Cummings, I. Danko, J. Napolitano, D. Cronin-Hennessy, C. S. Park, W. Park, J. B. Thayer, E. H. Thorndike, T. E. Coan, Y. S. Gao, F. Liu, R. Stroynowski, M. Artuso, C. Boulahouache, S. Blusk, J. Butt, E. Dambasuren, O. Dorjkhaidav, N. Menaa, R. Mountain, H. Muramatsu, R. Nandakumar, R. Redjimi, R. Sia, T. Skwarnicki, S. Stone, J. C. Wang, K. Zhang, A. H. Mahmood, S. E. Csorna, G. Bonvicini, D. Cinabro, M. Dubrovin, A. Bornheim, E. Lipeles, S. P. Pappas, A. J. Weinstein, R. A. Briere, G. P. Chen, T. Ferguson, G. Tatishvili, H. Vogel, M. E. Watkins, N. E. Adam, J. P. Alexander, K. Berkelman, D. G. Cassel, J. E. Duboscq, K. M. Ecklund, R. Ehrlich, L. Fields, R. S. Galik, L. Gibbons, B. Gittelman, R. Gray, S. W. Gray, D. L. Hartill, B. K. Heltsley, D. Hertz, L. Hsu, C. D. Jones, J. Kandaswamy, D. L. Kreinick, V. E. Kuznetsov, H. Mahlke-Krüger, T. O. Meyer, P. U.E. Onyisi, J. R. Patterson, T. K. Pedlar, D. Peterson, J. Pivarski, D. Riley, J. L. Rosner, A. Ryd, A. J. Sadoff, H. Schwarthoff, M. R. Shepherd, W. M. Sun, J. G. Thayer, D. Urner, T. Wilksen, M. Weinberger, S. B. Athar, P. Avery, L. Breva-Newell, R. Patel, V. Potlia, H. Stoeck, J. Yelton

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

32 Scopus citations

Fingerprint

Dive into the research topics of 'First observation and dalitz analysis of the D0 → K S0ηπ0 Decay'. Together they form a unique fingerprint.

Keyphrases

Engineering